Focused Ion Beam, ook bekend als FIB, is een techniek die met name wordt gebruikt in de halfgeleiderindustrie, materiaalkunde en in toenemende mate in het biologische veld voor locatie- specifieke analyse, depositie en ablatie van materialen. Een FIB-opstelling is een wetenschappelijk instrument dat lijkt op een Scanning Electronen Microscoop (SEM). Terwijl de SEM een gefocusseerde elektronenbundel gebruikt om een preparaat met nanometer resolutie af te beelden, gebruikt een FIB-opstelling in plaats daarvan een gefocusseerde ionenbundel. Dit maakt het mogelijk om zeer lokaal materiaal weg te ‘graven’.
Dit systeem zorgt voor monstervoorbereiding voor een Transmissie Electronen Microscoop (TEM). De mogelijkheid om op nanometerschaal nauwkeurig de plaats van een preparaat te bepalen maakt de FIB  geschikt om bijvoorbeeld individuele transistors in huidige IC-technologie producten te analyseren, of om dwarsdoorsneden van lokale defecten in complexe, meerlaagse producten te creëren, zelfs in systemen met bundelgevoelige materialen.
Voordelen van dit nieuwe systeem zijn dat ze bij Eurofins Material Science Netherlands een nog breder scala materialen kunnen analyseren, gecontroleerd zeer dunne samples kunnen maken, minder artefacten creëren en dat het afbeeldend vermogen van de SEM optie van dit apparaat sterk verbeterd is. Kortom, het nieuwste en beste wat er op dit gebied momenteel op de markt verkrijgbaar is.
In combinatie met onze TEM-faciliteit voor atomaire resolutie en verschillende geavanceerde SEM-instrumenten, zal deze belangrijke investering bijdragen aan het aanbieden van het breedste scala aan geavanceerde microscopiediensten aan alle Europese klanten van Eurofins.
Neem gerust contact op met Eurofins Materials Science Netherlands voor meer informatie over onze geavanceerde beeldvormings mogelijkheden.
